测绘科学

1985, (04) 42

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介绍近景摄影测量系统IADC70

文沃根

摘要(Abstract):

<正> 今年二月,瑞典VIMATEK AB厂首次在美国ASP会议上展出了一个小型解析摄影测量系统IDAC70。三月二十五日该厂携带该系统来华在国家测绘局大楼展览两天,并详细介绍和表演。该系统特点是重量轻,携带方便,操作简单。特别适合于近景摄影测量和低空摄影测量。IADC70有四个部分(如图1):

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作者(Author): 文沃根

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