测绘科学

1983, (02) 1-6

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25年来的微波测距仪

方佩竹

摘要(Abstract):

<正> 1957年,亦即25年前,Tellurometer有限公司按照瓦德利(Wadley)研究的原理,首次批量生产Tellurometer MRA1型微波测距仪。与当时已有数年历史但仅能在黎明、黄昏和夜间观测的光电测距仪相比,它的优点显著。差不多可在全天候条件下进行观测,测程超过光电测距仪。尔后的10年中,着手研制和生产微波测距仪的国家,计有美、英加、澳、日、苏联、匈、瑞士、东德、西德和波兰。1962年在伦敦举

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作者(Author): 方佩竹

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